BGP-G-SP504S光束分析仪(光斑分析)Beam Profiler

SP504S光束分析仪(光斑分析仪) Beam Profiler可以准确地捕获并分析340nm到1100nm的波长。在32.5mm画幅下能形成*大有效面积，具有宽动态范围和良好的信噪比，是进行超大光束轮廓分析的理想选择。

一、SP504S光束分析仪参数

● 波长：340-1100nm

● 光束尺寸：45μm – 23mm

● 接口：GigE

● 传感器类型：CMOS

● 兼容光源：CW、脉冲

● 23mm x 23mm成像仪格式

● *高解析度

● CMOS，全局快门

● 真正44.6dB动态分辨率

● 5120 x 5120像素分辨率，含4.5µm像素间距

● 包括BeamGage专业软体

二、SP504S光束分析仪特点

● 符合ISO标準

● 采用UltraCal演算法，*高精度的测量仪

● 采用自动设置”和“自动曝光”功能进行快速设置和精度优化

三、SP504S光束分析仪测量参数

● 光斑形状/尺寸大小

● 二维/三维空间强度分佈

● 直径D4α(D4αM长轴/D4αm短轴)

● 质心位置(X,Y座标)

● 长宽比

● 峰值位置

● 发散角量测

深圳市博纳德精密仪器有限公司经营的产品有：Ophir激光功率计、Ophir光束质量分析仪、Scitec光学斩波器、SRS放大器、Femto电流放大器、Femto电压放大器、Femto光电探测器、Femto锁相放大器、脉冲发生器、AA Lab Systems放大器/信号调节器等其它设备，如有需要可以联系我们。